2004年7月20日 東京高等裁判所 判決
半導体研磨の終点検出特許の取消決定
結果 —向き―
| あらまし | ニコンは、半導体の製造で表面の膜を削る工程について、光を当てて終わりのタイミングを見分ける方法と装置の特許を持っていた。この特許に異議が出され、特許庁は一部の請求項について特許を取り消した。ニコンはこの取消しを取り消すよう裁判所に求めた。その裁判の途中で、ニコンは特許の範囲を狭める訂正を特許庁に申し立て、それが認められて確定した。 |
|---|---|
| それまでの判断 | 特許庁は、請求項1〜3、5、8、9〜11、14の発明は、すでに知られていた技術をもとに専門家なら簡単に思いつけたとして、これらの特許を取り消した（請求項4、6、7、12、13の特許は残した）。 |
| 判断 | 特許庁の取消しのうち、請求項1〜3、5、8、9〜11、14の部分を取り消した。 裁判の途中で特許の範囲を狭める訂正が確定したため、特許庁の決定は審査の前提となる発明の内容を誤ったことになり、それが結論に影響するのは明らかだとした。 裁判費用は、勝ったニコン側が負担するものとした。 |
- 裁判年月日
- 2004年7月20日
- 裁判所
- 東京高等裁判所
- 種類
- ―
- 事件番号
- 平成16年（行ケ）第146号
- 事件名
- 特許取消決定取消請求事件
- 結果
- —
- 向き
- ―
- 原文
- 裁判所ウェブサイト
裁判の流れ
| 段階 | 裁判所 |
|---|---|
| 高裁 | 東京高等裁判所 平成16年（行ケ）第146号 2004.07.20— この判決 |
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この判決をした裁判官
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