1999年3月9日 最高裁判所第三小法廷 判決
上告中の特許訂正と判決のやり直し
結果 —向き―
| あらまし | X線で物質の微小な部分を調べる装置「微小領域X線ディフラクトメーター」の特許を持つ特許権者に対し、相手方が特許を無効にするよう特許庁に審判を求めたが、特許庁は請求を退けた。相手方はこの特許庁の判断の取消しを求めて提訴し、東京高裁は取消しを認めた。特許権者は最高裁に上告し、その審理中に、特許の範囲を「試料の回りに半円状を成して配置された」検出器に狭める訂正を特許庁に求め、これを認める判断が確定した。 |
|---|---|
| それまでの判断 | 東京高裁は、この発明は特許庁の判断に引用された技術から専門家が容易に思いつけるものだとして、特許を無効にしないとした特許庁の判断を取り消した。 |
| 最高裁の判断 | 東京高裁の判決を破棄し、審理をやり直させるため東京高裁に差し戻した。 上告中に訂正で特許の範囲が狭まると、判決の土台の行政処分が変更されたことになり、再審事由にあたる。 この再審事由は判決に影響を及ぼす明らかな法令違反であり、本件の訂正も範囲の縮小にあたるとした。 |
- 裁判年月日
- 1999年3月9日
- 法廷
- 最高裁判所第三小法廷
- 種類
- ―
- 事件番号
- 平成8年（行ツ）第265号
- 結果
- —
- 向き
- ―
- 原文
- 裁判所ウェブサイト
裁判の流れ
| 段階 | 裁判所 |
|---|---|
| 二審 | 東京高等裁判所1996.09.05特許庁の判断を取り消した ― |
| 最高裁上告 | 最高裁判所第三小法廷 平成8年（行ツ）第265号 1999.03.09— この判決 |
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