2007年11月29日 知的財産高等裁判所 判決
集積回路のテスト用スイッチの特許
結果 請求棄却向き―
| あらまし | オランダの電機メーカーが、アナログ回路をもつ集積回路の発明について特許を出願した。この発明は、回路とテスト用の配線と外部ピンのあいだに3通りに切り替わるスイッチを置き、チップの外にある部品の信号もテストできるようにするものだ。特許庁は出願を拒絶し、メーカーの不服の申立ても退けたため、メーカーはこの判断の取消しを求めて裁判を起こした。 |
|---|---|
| それまでの判断 | 特許庁は、この発明は先に公開されていた文献の発明に、よく知られたテスト技術（バウンダリスキャン技術）を当てはめれば専門家が簡単に思いつけるものだとして、メーカーの不服の申立てを退けた。 |
| 判断 | 文献の発明のスイッチは、チップ内の部分回路の外にある接続点を通して別の部分回路につながっているとみることができ、特許庁の比べ方に誤りはないとした。 チップを基板に載せたままテストする技術はよく知られており、文献の発明をこれに広げれば、外部ピンを使う3通りの切替えは簡単に思いつけるとした。 チップの外の部品の信号もテストできるという効果は予想できる範囲のもので、特許庁の判断は正しいとしてメーカーの請求を退けた。 |
- 裁判年月日
- 2007年11月29日
- 裁判所
- 知的財産高等裁判所
- 種類
- ―
- 事件番号
- 平成18年（行ケ）第10403号
- 事件名
- 審決取消請求事件
- 結果
- 請求棄却
- 向き
- ―
- 原文
- 裁判所ウェブサイト
裁判の流れ
| 段階 | 裁判所 |
|---|---|
| 高裁 | 知的財産高等裁判所 平成18年（行ケ）第10403号 2007.11.29請求棄却 この判決 |
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この判決をした裁判官
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