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2009年11月30日 知的財産高等裁判所 判決

基板の外観検査装置の集中管理と進歩性

結果 請求棄却向き―

あらましある会社が、部品をはんだ付けした基板を撮影して良し悪しを判定する外観検査装置について、特許を出願した。この発明は、各検査装置で撮影した画像をネットワーク経由で管理装置に送ってモニタに映し、不良とされた箇所を確認するしくみだ。特許庁は特許を認めず、会社の不服申立ても退けた。そこで会社は、この特許庁の判断(審決)を取り消すよう求めて裁判を起こした。
それまでの判断特許庁は、以前に公開された、光学式とX線式の検査装置とサーバをネットワークでつないだ検査システムの文献と、よく知られた技術を組み合わせれば、専門家が簡単に思いつける発明だとした。そのため特許は受けられないとして、会社の不服申立てを退けた。
判断

「目視検査」には、実物を直接見る検査だけでなく、モニタの画像を見る検査も含まれる。発明と先行技術が目視検査を行う点で同じだとした特許庁の判断は正しいとした。

先行技術の光学式とX線式の装置は、それぞれが発明の「外観検査装置」にあたる。データを一括管理するサーバも「管理装置」にあたるとした。

画像をモニタに映して不良箇所を確認することは、よく知られていた。工場内のネットワークで画像を送るのも簡単に思いつけるとして、会社の請求を退けた。

裁判年月日
2009年11月30日
裁判所
知的財産高等裁判所
種類
―
事件番号
平成21年(行ケ)第10105号
事件名
審決取消請求事件
結果
請求棄却
向き
―
原文
裁判所ウェブサイト

裁判の流れ

段階裁判所日付種類結果判決文
高裁知的財産高等裁判所

平成21年(行ケ)第10105号

2009.11.30請求棄却 この判決
2009.11.30―請求棄却この判決

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この判決をした裁判官

3人
傾向名前立場向き個別意見・役割
飯村 敏明賛成―裁判長
中平 健賛成―
上田 洋幸賛成―

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