2003年3月10日 東京高等裁判所 判決
微小領域X線回折装置の特許の無効
結果 —向き―
| あらまし | 日本電子株式会社は、試料のごく小さな部分にX線を当てて、跳ね返ったX線から物質を見分ける装置「微小領域X線デイフラクトメーター」の特許を持っていた。理学電機株式会社がこの特許を無効にするよう特許庁に求め、特許庁は、以前の論文などから専門家なら簡単に思いつける発明だとして特許を無効にした。日本電子は、この特許庁の判断（審決）を取り消すよう裁判所に求めた。 |
|---|---|
| それまでの判断 | 特許庁は、試料を2つの軸で回転させる仕組みや半円形の検出器などは、過去の7つの文献に書かれた技術から専門家が簡単に思いつけたとして、特許を無効とする審決をした。 |
| 判断 | 小さな部分の物質を見分ける目的とその難しさは出願前から知られており、既存の装置でX線を細く絞って小さな部分を測ることは簡単にできたと判断した。 試料を2軸で回して結晶の向きを増やす技術や、半円形の検出器、顕微鏡での位置合わせも既に知られており、組み合わせは容易で、効果も予測できる範囲だとした。 日本電子の主張はどれも理由がないとして、審決の取消しを求める請求を退けた。 |
- 裁判年月日
- 2003年3月10日
- 裁判所
- 東京高等裁判所
- 種類
- ―
- 事件番号
- 平成13年（行ケ）第390号
- 結果
- —
- 向き
- ―
- 原文
- 裁判所ウェブサイト
裁判の流れ
| 段階 | 裁判所 |
|---|---|
| 高裁 | 東京高等裁判所 平成13年（行ケ）第390号 2003.03.10— この判決 |
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この判決をした裁判官
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