2015年2月25日 知的財産高等裁判所 判決
検査装置の接触ユニットの特許性
結果 請求棄却向き―
| あらまし | ドイツの装置メーカーが、基板上の液晶ディスプレイなどを検査するときに使う「接触装置」について特許を出願した。この装置では、検査体に電気的に触れる接触ユニットが、基板を載せる台(ホルダー)とは別に動き、その大きさはホルダーの約半分以下になっている。特許庁は出願を認めず、メーカーの不服の申立ても退けたため、メーカーがその判断(審決)の取消しを求めた。 |
|---|---|
| それまでの判断 | 特許庁は、この発明は、半導体ウエハ上のチップを電子顕微鏡で観察しながら、プローブを当ててテストする装置を記載した米国の特許文献をもとに、専門家が簡単に思いつけるものだとして、特許を認めない審決をした。 |
| 判断 | 発明は、接触装置による検査と検査装置による検査を同時に行うものにとどまり、二つの検査が同じ一つの検査である場合に限られないので、米国文献の装置と同じ構成だとした審決は正しい。 真空の部屋の中で使うプローブを小さくしようとするのは自然で、台からはみ出さない大きさ、つまり台の半分以下にすることは簡単に思いつける。 検査体の数や並べ方は特定されておらず、接触ユニットを台の半分以下にすることに特別な技術的意味はないとして、メーカーの請求を退けた。 |
- 裁判年月日
- 2015年2月25日
- 裁判所
- 知的財産高等裁判所
- 種類
- ―
- 事件番号
- 平成26年(行ケ)第10099号
- 事件名
- 審決取消請求事件
- 結果
- 請求棄却
- 向き
- ―
- 原文
- 裁判所ウェブサイト
裁判の流れ
| 段階 | 裁判所 |
|---|---|
| 高裁 | 知的財産高等裁判所 平成26年(行ケ)第10099号 2015.02.25請求棄却 この判決 |
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この判決をした裁判官
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