2010年8月31日　知的財産高等裁判所　判決

蛍光X線分析装置の特許と審決の理由不足

結果　審決取消向き―

あらまし	米国の会社が、試料から出る蛍光X線を二重に曲げた光学部品で集めて分析する装置の発明について特許を出願したが、拒絶された。会社は特許庁に不服を申し立てたが、これも退けられた。そこで会社は、特許庁のこの判断（審決）を取り消すよう求めて裁判を起こした。
それまでの判断	特許庁は、この発明は以前の公開資料に書かれた分析装置と、よく知られた技術を組み合わせれば専門家が簡単に思いつけるとして、特許を認めなかった。
判断	「試料から部品へ向かう蛍光X線がほぼ全部部品に当たる」という点を、特許庁は以前の装置と同じ点とも違う点とも扱っており、つじつまが合わないとした。以前の装置は途中の細いすき間で蛍光X線の一部をさえぎっており、この点は実際に違う点だとした。それなのに特許庁は思いつきやすい理由を示しておらず、審決を取り消した。特許庁の手続きに問題があるという会社の主張は、会社に反論の機会が与えられていたとして認めなかった。

あらまし

米国の会社が、試料から出る蛍光X線を二重に曲げた光学部品で集めて分析する装置の発明について特許を出願したが、拒絶された。会社は特許庁に不服を申し立てたが、これも退けられた。そこで会社は、特許庁のこの判断（審決）を取り消すよう求めて裁判を起こした。

それまでの判断

特許庁は、この発明は以前の公開資料に書かれた分析装置と、よく知られた技術を組み合わせれば専門家が簡単に思いつけるとして、特許を認めなかった。

判断

「試料から部品へ向かう蛍光X線がほぼ全部部品に当たる」という点を、特許庁は以前の装置と同じ点とも違う点とも扱っており、つじつまが合わないとした。

以前の装置は途中の細いすき間で蛍光X線の一部をさえぎっており、この点は実際に違う点だとした。それなのに特許庁は思いつきやすい理由を示しておらず、審決を取り消した。

特許庁の手続きに問題があるという会社の主張は、会社に反論の機会が与えられていたとして認めなかった。

裁判の流れ

段階	裁判所	日付	種類	結果	判決文
高裁	知的財産高等裁判所平成21年（行ケ）第10289号 2010.08.31審決取消　この判決	2010.08.31	―	審決取消	この判決

判決文が公開されていないものは、分かっていることだけを載せています。

3人

名前	立場	向き	個別意見・役割
飯村敏明	賛成	―	裁判長
齊木教朗	賛成	―
武宮英子	賛成	―

判決のデータは裁判所ウェブサイトの裁判例検索などから集めています。傾向の色は、これまでの判決をもとにした目安です。

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